X射线测试卡用于高对比度和空间分辨率测量。

型号TPye-xx类别放射诊断
产品介绍

▶描述:


  • 焦斑的大小可以通过观察星形图案被有限尺寸的X射线源辐射时发生的模糊区域来确定。

  • 由于半影效应,从焦点的不同区域发出的辐射将导致图案的周期性模糊。

  • 对几何因素和从星卡中心到发生模糊的区域的距离的了解将允许计算焦斑的大小。
▶技术规格:
  • Type 9-0.25-07: 4 Sectors / 7° each
  • Type 9-0.25-360: Full Star 360°
  • Type 9-0.5-14: 4 Sectors / 14° each
  • Type 9-0.5-360: Full Star 360°
  • Type 9-1.0-28: 4 Sectors / 28° each
  • Type 9-1.0-360: Full Star 360°
  • Type 9-1.5-36: 4 Sectors / 36° each
  • Type 9-1.5-360: Full Star 360°
  • Type 9-2.0-44: 4 Sectors / 44° each
  • Type 9-2.0-360: Full Star 360°
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